Твердомер FISCHERSCOPE HM2000
Твердомер FISCHERSCOPE HM2000 представляет собой профессиональный инструмент для измерения микротвёрдости материалов толщиной более 1 – 2 мкм. Исследует механические свойства и упругость с помощью наноиндентирования. Есть автоматический режим измерения.
Модульная конструкция позволяет усовершенствовать прибор по желанию заказчика. Например, можно добавить оптику с более высоким разрешением или измерительную ступень с большей точностью повторяемости. Также можно оборудовать устройство подогреваемой подложкой для образцов, чтобы проводить измерения, не зависящие от температуры.
Прибор FISCHERSCOPE HM2000 подходит для измерения твёрдости тонких покрытий, толщиной более 1 мкм. Поскольку глубина углубления не должна превышать одной десятой общей толщины покрытия, приборы с слишком высокими испытательными нагрузками не справятся с этой задачей. Инденторы проникают в верхний слой, а измеренная твёрдость на самом деле представляет собой смесь покрытия и подложки.
Твердомер может применяться для определения износостойкости покрытий из PVD или CVD, из твёрдых материалов, таких как TiN, CrN и TiAIN, для исследования гальванических покрытий, медицинских материалов, электронных компонентов и проводов. Есть возможность автоматизированного измерения на нескольких образцах. Прибор соответствует DIN EN ISO 14577-1 и ASTM E 2546.
? 0,7 мкм/с
Скорость индентора
| Измерительная головка | |
| Диапазон измерения твёрдости | 0,001 – 120 000 Н/мм2 |
|---|---|
| Диапазон испытательной нагрузки | 0,1 – 2000 мН |
| Разрешение нагрузки | ? 150 нН |
| Разрешение по расстоянию | ? 10 пм |
| Микроскоп | |
| Объективы | 4x, 20x и 40x |
| Видеоизображение (поле зрения) | 1600?1200 мкм, 320?240 мкм, 160?120 мкм |
| Инденторы | |
| Исполнение | стандартно: для измерения твёрдости по Виккерсу; опционально: для измерения твёрдости Берковичу или с помощью карбидных шариков |
| Скорость индентора | ? 0,7 мкм/с |
| Максимальная степень углубления | 150 мкм; опционально до 500 мкм |
| Платформа для образцов | |
| Исполнение | программируемая XY-регулировка |
| Область размещения образцов | 180?150 мм |
| Максимальная область перемещения | 170?140 мм |
| Точность повторения XY | ±2 мкм (однонаправленная) |
| Максимальная высота образца | 130 мм |
| Максимальная масса образца | 2 кг |
| Опции | |
| XY-платформа с большей точностью | точность повторения: ±0,5 мкм (однонаправленная) |
| Микроскоп с более высоким разрешением | 5x, 20x, 50x и 100x с видеоизображением 1400?1000 мкм, 350?250 мкм, 140?100 мкм с автофокусировкой и автоматическим определеним объектива |
| Измерительная камера | закрытая, для снижения воздействий, вызванных воздушными потоками |
| Держатели образцов | универсальный держатель образцов, универсальный зажим, подложка для полированных образцов микросечений, зажимное устройство для фольги |
| SHS200 Нагреваемая платформа | нагревается до температуры +200 °C |
| Nanite AFM атомно-силовой микроскоп | для визуализации и количественной оценки структур в нанометровом диапазоне |
| Питание | сеть переменного тока 100 – 240 В ± 10%, частота 47 – 63 Гц |
| Потребляемая мощность | макс. 100 Вт (без учёта ПК) |
| Класс защиты | IP40 |
| Программное обеспечение | WIN-HCU для ОС Windows |
| Рабочие температуры | от +10 до +40 °C |
| Температура хранения | от 0 до +50 °C |
| Габариты | 630?650?610 мм |
| Масса | 120 кг |
